Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий

Ю.В.Ануфриев, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, Е.М.Еганова, М.И.Агафонов, А.А.Дудин. Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий// «Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIII Международной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля 2012. (с. 58-60)