Яндекс.Метрика

Структурная диагностика и вещественный анализ современных наносистем с применением аналитического оборудования на основе прецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии


03.12.2012

Ю.В.Ануфриев, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, В.Ю.Дубровинский. Структурная диагностика и вещественный анализ современных наносистем с применением аналитического оборудования на основе прецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии// «Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIII Международной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля 2012. (с. 55-57)