Влияние электропроводности материала на результаты сканирующей зондовой микроскопии

А.И. Попов, Васильева Н.Д., Тагаченков А.М., Зенова Е.В. и др.

Материалы докладов Международного научно-методического семинара «Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах». Москва, 2011г.