Яндекс.Метрика

Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов


01.12.2011

И.Н. Мирошникова, Е.В. Зенова, А.М. Тагаченков и др. Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов // М. Измерительная техника. №6, 2011г.