ИНМЭ РАН
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук
Об институте
Исследования и разработки
Установка КУТГИ
Национальные проекты
Новости
Противодействие коррупции
Контакты
На главную
Об институте
Публикации
Об институте
Руководство
Учёный совет
Публикации
Нормативные документы
Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов
01.12.2011
И.Н. Мирошникова, Е.В. Зенова, А.М. Тагаченков и др.
М. Измерительная техника. №6, 2011г.
Возврат к списку