INME RAS
Institute of Nanotechnology of Microelectronics of the Russian Academy of Sciences 
Характеристики зарядки диэлектрических пленок в зависимости от толщины при электронном облучении
01.12.2014
А.В.Гостев, Е.Н.Евстафьева, Э.И.Рау, А.М. Тагаченков, Характеристики зарядки диэлектрических пленок в зависимости от толщины при электронном облучении // Известия РАН. Серия физическая , 2014, том 78, №9 с. 1-71-1076.
Back to the list
