INME RAS
Institute of Nanotechnology of Microelectronics of the Russian Academy of Sciences 
Электрохимическое восстановление поврежденных контактных площадок кристаллов при анализе отказов современных интегральных схем
01.12.2014
Зубов Д.Н., Кельм Е.А., Молодцова Г.В., Милованов Р.А. Электрохимическое восстановление поврежденных контактных площадок кристаллов при анализе отказов современных интегральных схем // Нано- и микросистемная техника. 2014. №5(166). С. 38-40.
Back to the list
