INME RAS
Institute of Nanotechnology of Microelectronics of the Russian Academy of Sciences 
Контраст изображений примесных областей в полупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе
02.12.2013
Э.И.Рау, А.М.Тагаченков. Контраст изображений примесных областей в полупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе // Известия РАН. Серия физическая, 2013, том 77, №8 с. 1041-1047.
Back to the list
