INME RAS
Institute of Nanotechnology of Microelectronics of the Russian Academy of Sciences 
Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов
01.12.2011
И.Н. Мирошникова, Е.В. Зенова, А.М. Тагаченков и др. Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов // М. Измерительная техника. №6, 2011г.
Back to the list
