INME RAS
Institute of Nanotechnology of Microelectronics of the Russian Academy of Sciences 
Исследования логического состояния интегральных микросхем методами атомной силовой микроскопии
01.12.2010
А.М. Тагаченков. Исследования логического состояния интегральных микросхем методами атомной силовой микроскопии // ВМУ Серия 3, ФИЗИКА. Астрономия, 2010, № 3, стр. 59-61.
Back to the list
