Сравнительное изучение подзатворных систем n- и p- канальных МДП транзисторов КМДП СБИС электрофизическими методами

Г.Е. Поповских, Е.В. Зенова, А.М. Тагаченков, В.С. Солдатов.

Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): Материалы докладов научно-методического семинара (Москва 27-28 11. 2014 г.) М: МНТОРЭС им. А.С. Попова, НИУ «МЭИ», 2015.- 171с., стр. 123-129.