Яндекс.Метрика
Э-И микроскопия

Двулучевая электронно-ионная микроскопия

  • Получение изображений с высоким разрешением и контрастом


  • Элементный анализ высокого разрешения и чувствительности
  • Дифракция электронов и анализ дифракционных картин


  • Анализ отказов полупроводниковых приборов



  • Модификация объектов и структур

  • Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии

  • Электрические измерения в вакууме

  • Операции с одиночными нано объектами



  • Исследование диэлектриков