ОЖЭ электронная микроскопия
ОЖЭ электронная микроскопия
- Картирование в режиме вторичных электронов
- Картирование поверхности с высоким латеральным разрешением
- Качественный и количественный анализ поверхности твердых тел
- Неразрушающий контроль толщин тонких пленок
- Профилирование распределения атомов по глубине
