ИНМЭ РАН
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук
ИНМЭ РАН
Исследования и разработки
Уникальная научная установка КУТГИ
Национальные проекты
Новости
Контакты
На главную
Исследования и разработки
Аналитические исследования
ПрЭМ
Аналитические исследования
Просвечивающая электронная микроскопия
Двулучевая электронно-ионная микроскопия
ОЖЭ электронная микроскопия
Вакуумные зондовые измерения
ИК- и фотоспектрометрия
Атомно-силовая микроскопия
Просвечивающая электронная микроскопия
Получение TEM изображений
Получение STEM изображений
Получение дифракционных картин
Система анализа дифракционных картин
Элементный анализ с атомарным разрешением
Элементный анализ с атомарным разрешением