Выставочная деятельность

С 25 по 29 апреля в новосибирском Академгородке проходила четвертая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы», организованная компанией «Роснано» совместно с Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и институтами Сибирского отделения РАН.

Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН принял участие на выставке CeBIT, которая проходила в г. Ганновер (Германия) с 1 по 5 марта 2011 г.

Со 2 по 6 марта на выставке CeBIT-2010 на совместном с НТЦ МИЭТ стенде демонстрировались возможности Института по контролю конструктивных, технологических и функциональных характеристик современных СБИС