09.03.2010
В 2010 году Институт впервые принял участие в международной выставке
Со 2 по 6 марта на выставке CeBIT-2010 на совместном с НТЦ МИЭТ стенде демонстрировались возможности Института по контролю конструктивных, технологических и функциональных характеристик современных СБИС