Зубов Д.Н., Кельм Е.А., Молодцова Г.В., Милованов Р.А. Электрохимическое восстановление поврежденных контактных площадок кристаллов при анализе отказов современных интегральных схем // Нано- и микросистемная техника. 2014. №5(166). С. 38-40.